Рентгеновские спектрометры и дифрактометры

Рентгновские дифрактометры применяется для решения различных задач структурного анализа объектов с кристаллической структурой.

Энергодисперсионные рентгено-флуоресцентные спектрометры применяются для неразрушающего скрининга элементного состава твердых. порошкообразных и жидких образцов в диапазоне элементов от (C или Na) до U в фармацевтических препаратах, в пищевых продуктах, полимерных материалах, компонентах электроники, рудах и сплавах. Также RFA спектрометры используются для определения токсичных элементов в электронных компонентах в соответствии с директивой RoHS (ТР ЕАЭС 037/2016) и скрининга галогенов.

Волнодисперсионные рентгенофлуоресцентные спектрометры не анализируют широкий спектр длин волн или энергий и применяются для определения заведомо известных элементов в диапазоне от Be до U.

Рентгено-флуоресцентные анализаторы Shimadzu представлены следующими моделями:

• Энергодисперсионный рентгено-флуоресцентный спектрометр серии EDX,
• Волнодисперсионные рентгенофлуоресцентные спектрометры - MXF-2400 и XRF-1800
• Рентгеновские дифрактометры XRD-6100 / XRD-7000.

Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр с визуализацией AXIS Supra + (Kratos Ultra 2 в Японии) сочетает в себе самые современные возможности спектроскопии и визуализации с высочайшим уровнем автоматизации, доступным в настоящее время. Спектрометр AXIS Supra + разработан для обеспечения гибкости, позволяющей добавлять дополнительные параметры анализа поверхности и подготовки поверхности без ущерба для производительности XPS. Это делает его бесценным инструментом для получения полной характеристики поверхности материалов.

Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр с визуализацией AXIS NOVA обеспечивает высокую чувствительность, отличное энергетическое разрешение и быструю визуализацию с высоким пространственным разрешением. Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр AXIS Nova готов удовлетворить потребности в анализе самых сложных приложений. Уникальной конструкцией AXIS Nova является столик для образцов диаметром 110 мм, обеспечивающий непревзойденную работу с большими образцами и высокую пропускную способность. Разработанный для простоты использования, AXIS Nova оснащен автоматической загрузкой образцов, ортогональными камерами для удобного позиционирования образцов и интуитивно понятным программным обеспечением для сбора данных. Фотоэлектронный спектрометр AXIS Nova может собирать рентгеновские фотоэлектронные спектры и изображения из любого материала, который стабилен в условиях сверхвысокого вакуума, необходимых для этого метода.